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更新時間：2021-09-23
點擊次數(shù)：1952
測量次序
將直流電壓施加在試樣上,會改變其隨后測量的工頻 tan6的結果。
當在同一試樣上相繼測量電容率、損耗因數(shù)和電阻率時,工頻下測量應在對試樣施加直流電壓以前進行。工頻試驗后,應將兩電極短路1min后再開始測量電阻率。
導致錯誤結果的因素
雖然只有嚴重污染才會影響電容率。但微量的污染卻能強烈地影響 tan 和電阻率。
不可靠的結果通常是由于不適當?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴?、由未洗凈試驗池或吸收了水? 特別是存在不溶解的水份所引起。
在貯藏期間長久暴露在強光線下會導致電介質劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運輸以及試驗池的結構和凈化的標準化程序,可使由污染引起的誤差減至*小
當前位置：
